Оборудование, технологические решения, оснастка, инструмент для металлообработки.

На сегодняшний момент компания Jenoptik является признанным мировым лидером в области разработки и производства приборов для контроля шероховатости, волнистости и контура поверхности.

Линейка приборов Waveline включает в себя как мобильные приборы для измерения шероховатости и волнистости, так и стационарные лабораторные системы для проведения высокоточных измерений микроструктуры и контура поверхности.

Мобильные приборы W5, W10 и W20 предназначены для контроля шероховатости и волнистости поверхности как в цеховых условиях, так и в лаборатории. Малый вес, компактность, простота управления, эргономичность и удобство вывода результатов являются отличительной особенностью этих приборов. Приборы могут комплектоваться современным программным обеспечением EVOVIS-mobile, позволяющим быстро производить оценку измеренного профиля. Щуповые консоли различной формы и дополнительные крепёжные аксессуары позволяют серьезно расширить возможности приборов при решении сложных измерительных задач.

Стационарные измерительные системы представлены приборами W55, T8000 и Nanoscan. Данные системы предназначены для высокоточного контроля параметров поверхности в лабораторных условиях. Новейшая разработка компании Jenoptik – прибор Nanoscan – это уникальная система для измерения шероховатости и контура за один проход с разрешением от 0,6 нМ. Высокая надёжность, модульность удобство управления в сочетании с инновационным программным обеспечением EVOVIS являются визитной карточкой этих приборов. Все перечисленные особенности измерительных систем Waveline позволяют компании Jenoptik уверенно лидировать на рынке производства измерительных систем данного класса.